Ieee Design & Test
期刊中文名：IEEE設(shè)計(jì)與測(cè)試ISSN：2168-2356E-ISSN：2168-2364
該雜志國(guó)際簡(jiǎn)稱：IEEE DES TEST，是由出版商IEEE Computer Society出版的一本致力于發(fā)布計(jì)算機(jī)科學(xué)研究新成果的的專業(yè)學(xué)術(shù)期刊。該雜志以計(jì)算機(jī)硬件研究為重點(diǎn)，主要發(fā)表刊登有創(chuàng)見的學(xué)術(shù)論文文章、行業(yè)最新科研成果，扼要報(bào)道階段性研究成果和重要研究工作的最新進(jìn)展，選載對(duì)學(xué)科發(fā)展起指導(dǎo)作用的綜述與專論，促進(jìn)學(xué)術(shù)發(fā)展，為廣大讀者服務(wù)。該刊是一本國(guó)際優(yōu)秀雜志，在國(guó)際上有很高的學(xué)術(shù)影響力。
雜志介紹
Ieee Design & Test雜志介紹
《Ieee Design & Test》是一本以English為主的未開放獲取國(guó)際優(yōu)秀期刊，中文名稱IEEE設(shè)計(jì)與測(cè)試，本刊主要出版、報(bào)道計(jì)算機(jī)科學(xué)-計(jì)算機(jī)硬件領(lǐng)域的研究動(dòng)態(tài)以及在該領(lǐng)域取得的各方面的經(jīng)驗(yàn)和科研成果，介紹該領(lǐng)域有關(guān)本專業(yè)的最新進(jìn)展，探討行業(yè)發(fā)展的思路和方法，以促進(jìn)學(xué)術(shù)信息交流，提高行業(yè)發(fā)展。該刊已被國(guó)際權(quán)威數(shù)據(jù)庫(kù)SCI、SCIE收錄，為該領(lǐng)域相關(guān)學(xué)科的發(fā)展起到了良好的推動(dòng)作用，也得到了本專業(yè)人員的廣泛認(rèn)可。該刊最新影響因子為2，最新CiteScore 指數(shù)為4.2。
本刊近期中國(guó)學(xué)者發(fā)表的論文主要有：
-
CaSA: End-to-End Quantitative Security Analysis of Randomly Mapped Cache
Author: Bourgeat, Thomas; Drean, Jules; Yang, Yuheng; Tsai, Lillian; Emer, Joel S.; Yan, Mengjia
英文介紹
Ieee Design & Test雜志英文介紹
IEEE Design & Test offers original works describing the models, methods, and tools used to design and test microelectronic systems from devices and circuits to complete systems-on-chip and embedded software. The magazine focuses on current and near-future practice, and includes tutorials, how-to articles, and real-world case studies. The magazine seeks to bring to its readers not only important technology advances but also technology leaders, their perspectives through its columns, interviews, and roundtable discussions. Topics include semiconductor IC design, semiconductor intellectual property blocks, design, verification and test technology, design for manufacturing and yield, embedded software and systems, low-power and energy-efficient design, electronic design automation tools, practical technology, and standards.
中科院SCI分區(qū)
Ieee Design & Test雜志中科院分區(qū)信息
| 《新銳期刊分區(qū)表》 2026年3月發(fā)布 |
綜述：否
TOP期刊：否
大類：計(jì)算機(jī)科學(xué) 4區(qū)
小類：
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC |
中科院SCI分區(qū)：是中國(guó)科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心科學(xué)計(jì)量中心的科學(xué)研究成果。期刊分區(qū)表自2004年開始發(fā)布，延續(xù)至今；2019年推出升級(jí)版，實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)版、升級(jí)版并存過(guò)渡，2022年只發(fā)布升級(jí)版，期刊分區(qū)表數(shù)據(jù)每年底發(fā)布。 中科院分區(qū)為4個(gè)區(qū)。中科院分區(qū)采用刊物前3年影響因子平均值進(jìn)行分區(qū),即前5%為該類1區(qū)，6%～20%為2區(qū)、21%～50%為3區(qū)，其余的為4區(qū)。1區(qū)和2區(qū)雜志很少，雜志質(zhì)量相對(duì)也高，基本都是本領(lǐng)域的頂級(jí)期刊。
JCR分區(qū)
Ieee Design & Test雜志 JCR分區(qū)信息
2025-2026年最新版
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) |
學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
收錄子集：SCIE
分區(qū)：Q3
排名：42 / 60
百分位：
30.8 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
收錄子集：SCIE
分區(qū)：Q3
排名：243 / 369
百分位：
34.3 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
收錄子集：SCIE
分區(qū)：Q3
排名：45 / 61
百分位：
27.05 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
收錄子集：SCIE
分區(qū)：Q3
排名：226 / 371
百分位：
39.22 |
JCR分區(qū)：JCR分區(qū)來(lái)自科睿唯安公司,JCR是一個(gè)獨(dú)特的多學(xué)科期刊評(píng)價(jià)工具，為唯一提供基于引文數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)信息的期刊評(píng)價(jià)資源。每年發(fā)布的JCR分區(qū)，設(shè)置了254個(gè)具體學(xué)科。JCR分區(qū)根據(jù)每個(gè)學(xué)科分類按照期刊當(dāng)年的影響因子高低將期刊平均分為4個(gè)區(qū)，分別為Q1、Q2、Q3和Q4，各占25%。JCR分區(qū)中期刊的數(shù)量是均勻分為四個(gè)部分的。
CiteScore 評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)（2026年6月最新版）
Ieee Design & Test雜志CiteScore 評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)
- CiteScore 值：4.2
- SJR：0.471
- SNIP：0.928
| 學(xué)科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 大類：Engineering 小類：Electrical and Electronic Engineering | Q2 | 378 / 1030 |
63% |
| 大類：Engineering 小類：Hardware and Architecture | Q2 | 100 / 245 |
59% |
| 大類：Engineering 小類：Software | Q2 | 225 / 503 |
55% |
歷年影響因子和期刊自引率
投稿經(jīng)驗(yàn)
Ieee Design & Test雜志投稿經(jīng)驗(yàn)
該雜志是一本國(guó)際優(yōu)秀雜志，在國(guó)際上有較高的學(xué)術(shù)影響力，行業(yè)關(guān)注度很高，已被國(guó)際權(quán)威數(shù)據(jù)庫(kù)SCI、SCIE收錄，該雜志在計(jì)算機(jī)硬件綜合專業(yè)領(lǐng)域?qū)I(yè)度認(rèn)可很高，對(duì)稿件內(nèi)容的創(chuàng)新性和學(xué)術(shù)性要求很高，作為一本國(guó)際優(yōu)秀雜志，一般投稿過(guò)審時(shí)間都較長(zhǎng)，投稿過(guò)審時(shí)間平均-，如果想投稿該刊要做好時(shí)間安排。版面費(fèi)不祥。該雜志近兩年未被列入預(yù)警名單，建議您投稿。如您想了解更多投稿政策及投稿方案，請(qǐng)咨詢客服。
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